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笔形探头与伸缩设计——SANKO山高应对狭小与高空检测的创新

更新时间：2026-06-15      浏览次数：66

笔形探头与伸缩设计——SANKO山高应对狭小与高空检测的创新


工业检测中经常面临一些特殊场景：细管内部的涂层厚度、设备背面的防腐层、高处的储罐顶盖等，传统检测工具往往难以触及。SANKO山高为此开发了一系列创新设计方案，使膜厚计能够适应各种复杂工况。

SANKO SM-Pen笔形探头测厚仪是窄小空间检测的理想选择。其笔形探头设计可以深入细管内部、零部件间隙等难以接近的位置，测量范围覆盖0~300μm和0~5mm两档，在均匀表面上精度可达±2μm或指示值的±5%。小探头设计还适用于曲面、圆棒、复杂形状内表面的局部涂层厚度测量，有效解决了狭小区域的检测难题。

对于高处和远处的涂层检测，SANKO SL-200E和TL-50电磁膜厚计配备了伸缩手柄，磁极安装在细长伸缩导轨的末端，最大伸展长度可达1.5米，能够轻松测量φ32mm以上的细管、设备背面、高处罐壁等位置的涂层厚度。这些创新设计大大拓展了膜厚计的应用范围，让化工设备检测不再受限于物理空间的约束。


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