TECHNO-OPTIS UVR-T2工业用UV检查仪技术规格及受光器选型说明
一、产品概述
TECHNO-OPTIS UVR-T2工业用UV检查仪是一款用于紫外线辐射照度和累计光量检测的工业测量设备，主要用于UV固化、电子元件封装与粘接、PCB生产、半导体及FPD曝光设备、紫外线杀菌和表面处理等领域。
设备采用硅光电二极管作为受光元件，配备四种不同波长范围的受光器，可根据紫外光源的发射波段选择对应配置。
二、主要功能
实时辐射照度测量；
峰值辐射照度测量；
累计光量测量；
偏差测量及数据比较；
自动、手动量程切换；
内置数据存储；
USB数据输出；
0～2V模拟信号输出。
设备采用耐热金属结构，并配有防热外壳，适合工业UV照射设备的维护和检测。
三、受光器型号及技术参数
| 受光器型号 | 波长范围 | 峰值灵敏度 | 受光窗直径 |
|---|
| UD-T25T2 | 230～280nm | 约255nm | φ5mm |
| UD-T36T2 | 300～390nm | 约355nm | φ3mm |
| UD-T40T2 | 350～490nm | 约410nm | φ3mm |
| UD-T3040T2 | 290～430nm | — | φ3mm |
UD-T3040T2具有较宽波段的平坦化光谱响应特性，适用于UV-LED相关测量。对于具有特定发射波长和光谱宽度的UV-LED，应结合实际光谱分布确认适配性。
四、辐射照度测量范围
单位：mW/cm²。
| 受光器 | Range 1 | Range 2 | Range 3 |
|---|
| UD-T25T2 | 0.01～30.0 | 0.1～300.0 | 1.0～3000.0 |
| UD-T36T2 | 0.02～60.0 | 0.2～600.0 | 2.0～6000.0 |
| UD-T40T2 | 0.01～30.0 | 0.1～300.0 | 1.0～3000.0 |
| UD-T3040T2 | 0.02～60.0 | 0.2～600.0 | 2.0～6000.0 |
注：以上为辐射照度显示量程。精度保证范围需按照厂家针对不同受光器和量程公布的规格确认。
五、累计光量测量范围
四种受光器均支持三档累计光量测量：
| 量程 | 测量范围 |
|---|
| Range 1 | 0.01～999.99mJ/cm² |
| Range 2 | 0.1～9999.9mJ/cm² |
| Range 3 | 1.0～99999.0mJ/cm² |
累计光量可用于UV固化、紫外线处理及其他需要控制总照射量的工艺评价。
六、其他技术规格
| 参数 | 规格 |
|---|
| 受光元件 | 硅光电二极管 |
| 校正精度 | ±2%以内 |
| 直线性 | ±3%以内 |
| 斜入射光特性 | 30°：±5%以内；60°：±25%以内 |
| 数据采样时间 | 50Hz：10ms；60Hz：8.33ms |
| 数据采样率 | 50Hz：50次/秒；60Hz：60次/秒 |
| 模拟输出电压 | 0～2V |
| 数据接口 | USB 2.0 |
| 电源 | AAA电池×3或USB供电 |
| 使用温度 | 10～60℃ |
| 使用湿度 | 85%RH以下，无结露 |
| 外形尺寸 | 75×201×16mm |
| 重量 | 约320g（含电池，不含防热外壳） |
七、配套软件与选配附件
UVR-T2配套电脑测量程序，支持：
连续测量：1～9999次；
间隔测量：0～999秒；
自动零点补正；
时序曲线显示；
CSV格式数据输出。
另外，厂家提供ZV-48（2m）延长单元，可用于受光器与显示部分分离的测量布置。具体附件及系统连接方式应以厂家配置资料为准。
八、主要应用领域
UV胶水及涂层固化设备；
PCB印刷、干燥及装配生产线；
电子元件封装及粘接处理；
半导体和FPD曝光设备；
紫外线消毒及杀菌装置；
紫外线清洗及表面处理设备；
UV灯具研发及生产检测。
九、采购选型注意事项
采购UVR-T2时，建议重点确认：
UV光源的实际发射波长及光谱分布；
对应受光器的波长范围；
正常工作时的辐射照度水平；
是否需要累计光量测量；
是否需要USB数据记录或模拟信号输出；
是否需要延长单元及防热外壳；
现场温度是否处于设备规定的使用范围内。
需要特别说明，UVR-T2是紫外线辐射照度测量设备，不是紫外光谱分析仪。它可以对指定波段内的紫外线强度进行测量，但不能代替光谱仪分析完整的光谱组成。
对于工业UV固化、电子制造、PCB生产、半导体曝光及紫外线处理工艺，UVR-T2可作为紫外线光源输出管理和维护检测设备。
产品咨询：池田屋贸易周小姐
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更新时间：2026-11-02 
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