新品发布！！日本 YAMABUN 山文电气 TOF‑4R05HUD 高精度薄膜测厚仪

新品发布！！日本 YAMABUN 山文电气 TOF‑4R05HUD 高精度薄膜测厚仪

新品发布！！日本 YAMABUN 山文电气 TOF‑4R05HUD 高精度薄膜测厚仪

近期我司新推出日本 YAMABUN 山文电气 TOF‑4R05HUD 高精度薄膜测厚仪

在 PVB 夹胶膜、光学薄膜、锂电隔膜、功能性离型膜生产质检环节，软质薄膜受压形变、人工测量力度不一致，长期是行业检测痛点，普通千分尺、简易测厚设备极易造成数据失真，影响来料判定与成品质量管控。日本 YAMABUN 山文电气 TOF‑4R05HUD 台式离线接触式测厚仪，依托恒定压力测量机构与微米级分辨率，为薄膜、片材提供稳定可靠的厚度检测解决方案，目前池田屋商社可提供该型号咨询与供货服务。

TOF‑4R05HUD 为 TOF‑4R05 升级 HUD 读数版本，采用接触式夹层测量原理，标配0.6±0.1N 恒定测量压力，测头接触力度保持恒定，避免软质薄膜被挤压凹陷，还原材料真实厚度，消除人为操作带来的测量偏差。设备测量范围 0.03‑3mm，最小显示值可达 0.5μm，兼顾超薄薄膜与厚型胶片检测需求；支持 1mm 起自定义测量间距，最长扫描测量长度可达 10000mm，可完成试样多点连续扫描，输出完整厚度分布数据。

设备支持测量数据实时屏幕显示，可自动将检测数据保存至电脑，便于做批次统计、偏差分析与质量档案追溯，减少人工记录失误；整机适配车间质检工位与实验室研发环境，使用环境温度 5‑40℃，湿度 35‑80%（无结露），AC100‑240V 宽电压输入，工厂国内可直接使用；可选配打印机输出、特殊探头、纸张按压机构等配件，适配不同试样检测要求。

该仪器适用行业覆盖广泛：汽车玻璃领域用于 PVB 夹胶膜来料抽检与成品检测，保障夹层玻璃安全性能；光伏、新材料行业检测封装胶膜、离型膜厚度均匀度；电子行业用于绝缘胶片、各类塑料片材测试；同时也可满足科研实验室新材料试样研发测试工作，一台设备兼顾来料检验、过程巡检、出厂检测多类场景。

针对国内薄膜加工、玻璃深加工、新材料企业，池田屋商社周小姐可提供 YAMABUN 山文电气 TOF‑4R05HUD 型号选型确认、货期咨询、配套配件选型等商务对接，助力企业完成柔性薄膜厚度质量管控。