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更新时间:2026-11-02
浏览次数:4新品发布!!TOPCON拓普康SR-5100二维分光辐射计
新品发布!!TOPCON拓普康SR-5100二维分光辐射计
近期我司新推出TOPCON拓普康SR-5100二维分光辐射计
在光学检测、显示器件研发及照明产品质量控制领域,亮度、色度和光谱分布是重要的评价指标。对于需要分析整个发光区域光学特性的检测任务,二维分光测量设备能够提供比传统单点测量更丰富的空间数据。
TOPCON(拓普康)SR-5100是一款二维分光辐射计,采用500万像素CMOS图像传感器,结合分光测量技术,实现被测区域的二维光学特性分析。
SR-5100属于TOPCON TECHNOHOUSE二维分光测量产品系列,能够对光源及物体表面的亮度、色度和光谱特性进行面测量。
设备通过二维成像方式获取多个位置的数据,并借助配套软件进行分析,可用于观察被测区域的亮度不均匀、色彩差异及光谱分布状态。
| 参数项目 | 技术规格 |
|---|---|
| 品牌 | TOPCON拓普康 |
| 型号 | SR-5100 |
| 产品类型 | 二维分光辐射计 |
| 受光器 | 500万像素CMOS |
| 有效像素 | 2448×2048 |
| 测量波长范围 | 380~780nm |
| 波长精度 | ±0.5nm |
| 光谱波长宽度 | 7nm(半峰宽) |
| 波长分辨率 | 1nm |
| 测量模式 | 分光模式、XYZ滤光片模式 |
| 接口 | USB 3.0、外部触发 |
| 电源 | 专用AC适配器,AC100~240V |
| 功耗 | 约20W |
| 工作环境 | 0~35℃,80%RH以下(无结露) |
注:以上参数为系列公开资料整理,不同镜头及子型号的测量范围、重复精度和外形尺寸有所区别。
1. 二维亮度及色度测量
设备能够对被测区域进行面测量,分析不同位置的亮度及色度分布,可用于显示器件和照明产品的均匀性评价。
2. 光谱分布分析
分光模式下,设备能够获取380~780nm范围内的光谱信息,适合对发光产品及相关材料进行光谱特性评价。
3. XYZ滤光片测量
除分光模式外,SR-5100还支持XYZ滤光片模式,可用于相应的亮度和色度测量需求,在测量效率与数据类型之间进行选择。
4. 数据可视化
测量结果可以通过伪彩色、灰度、RGB图像、等高线及光谱曲线等方式进行展示,便于观察不同区域的光学差异。
SR-5100系列提供不同的镜头配置,主要包括:
SR-5100HWS:标准镜头及广角附件配置;
SR-5100HT:望远镜头配置;
SR-5100HM:微距镜头配置。
不同镜头适用于不同的被测目标尺寸、测量距离和空间条件。
其中,标准镜头焦距为32mm,广角附件配置为24mm,望远镜头焦距为140mm。微距配置主要用于微小区域的测量评价。
因此,用户在采购时应结合实际测量对象和安装空间确定具体型号,避免只按照SR-5100主型号采购而忽略镜头差异。
TOPCON SR-5100可用于以下检测及研发场景:
LCD显示器及相关光学部件亮度、色度均匀性检测;
OLED显示面板及照明产品光谱评价;
LED照明发光区域分布分析;
汽车仪表盘及车载显示设备光学检测;
涂料、薄膜和玻璃镀膜色彩差异分析;
微小区域的光谱成像检测。
在选购TOPCON SR-5100时,建议明确以下信息:
被测对象属于显示屏、LED光源还是光学材料;
需要测量亮度、色度还是完整光谱;
被测区域的尺寸和测量距离;
是否需要标准、广角、望远或微距镜头;
是否需要配套测量软件及其他附件。
通过确认具体测量需求,可以更准确地选择对应镜头和设备配置。
TOPCON拓普康SR-5100二维分光辐射计适用于专业光学检测及研发评价项目。如需咨询产品型号、技术资料、报价及采购信息,可联系池田屋贸易周小姐。