
PRODUCT CLASSIFICATION
技术文章/ article
针孔检测决定防腐成败——SANKO山高TRC系列针孔测试仪防腐涂层的完整性决定了化工设备的服役寿命和安全等级。哪怕是微米级的针孔缺陷,也可能在腐蚀性介质的作用下迅速扩展,导致基材腐蚀、泄漏甚至安全事故。SANKO山高的TRC系列针孔检测仪为涂层完整性评估提供了精准高效的工具。TRC-250B是SANKO最新推出的低频脉冲针孔测试仪,采用低频高压脉冲放电技术,检测电压可在5~25kV范围内调节,适用于厚度1mm以上的厚涂层检测。该设备配备了ABS材质伸缩探针,手柄部分直径φ32...
笔形探头与伸缩设计——SANKO山高应对狭小与高空检测的创新工业检测中经常面临一些特殊场景:细管内部的涂层厚度、设备背面的防腐层、高处的储罐顶盖等,传统检测工具往往难以触及。SANKO山高为此开发了一系列创新设计方案,使膜厚计能够适应各种复杂工况。SANKOSM-Pen笔形探头测厚仪是窄小空间检测的理想选择。其笔形探头设计可以深入细管内部、零部件间隙等难以接近的位置,测量范围覆盖0~300μm和0~5mm两档,在均匀表面上精度可达±2μm或指示值的±...
涂层厚度精准把控——SANKO山高在化工防腐领域的关键应用化工行业的设备防腐是保障生产安全和延长设备寿命的关键环节。储罐、管道、反应釜等设备的内外防腐涂层质量直接关系到整个生产系统的可靠性。SANKO山高涂层测厚仪凭借其在曲面测量、薄板检测等方面的性能,已成为化工防腐层质量控制的得力工具。以SANKOSC1-600W电磁涂层测厚仪为例,该设备通过实时分析磁阻变化,利用智能补偿算法自动修正曲面带来的磁场畸变,在半径50mm的弧形面上仍能将误差控制在±(1%读数+1...
涡流检测技术——山高SANKO对非铁金属基材的精准测量方案在化工和制造业中,铝、铜、不锈钢等非铁金属基材上的涂层检测一直是技术难点。山高SANKO的涡电流式膜厚计为此提供了高效的解决方案。该技术利用高频电场在金属表面诱导产生涡电流,涡电流的大小与涂层厚度之间存在明确的电气相关性,从而实现非铁金属基材上绝缘膜层厚度的非破坏性测量。SANKO涡流膜厚计的代表产品包括SWT-9200、SWT-9300等系列,测量范围灵活可调,适用于铝阳极氧化膜、电镀镍层等多种绝缘薄膜的检测。在锂电...
山高SANKO电磁感应膜厚计的工作原理与技术优势山高SANKO电磁感应式膜厚计是工业涂层检测领域的核心设备之一。其工作原理基于电磁感应定律:当测头中的线圈靠近铁磁性基材时,线圈的电感量会发生变化,这一变化量与膜层厚度之间存在确定的对应关系。覆层越厚,磁阻越大,磁通量越小,仪器通过精确测量这一变化来计算出膜层厚度。SANKO电磁膜厚计在均匀表面的测量精度可达显示值的±5%以内,部分高性能型号如SAMAC-FN在0~2.5mm范围内精度达±1μm。在实...
USHIO紫外线固化技术在化工领域的应用在化工生产中,紫外线固化技术因高效、环保、节能的特性而日益受到重视。USHIO的UV固化技术涵盖从高压汞灯到UV-LED的完整产品序列,服务于油墨、涂料、胶粘剂等广泛领域。USHIO高压水银灯为光化学反应领域而开发,点灯中水银蒸气压为0.5~5MPa,具有较宽的紫外线线光谱,250~320nm和365nm的共振线是其典型的强线谱,功率范围从100W到450W可供选择。这些线光谱能量可有效引发紫外线固化型油墨、涂料、胶粘剂的聚合反应,作为...
USHIOMidori™系列便携式UVLED点固化系统技术解析USHIOAmerica推出的Midori™系列便携式UVLED点固化系统,是工业精密固化领域的一项重要技术创新。该系列包括UDC365(365nm波长)和UDC405(405nm波长)两款手持式LED光源,专为精密工业、医疗和电子装配领域的点固化应用而设计。Midori™系列采用电池供电设计(2节RCR123A可充电锂电池),设备重量仅约127.6克(4.5盎司),可实现真正的...
USHIO闪光灯与卤素灯在半导体热处理中的应用在半导体制造的热处理环节,精准的温控和高效的热能传输是保证工艺一致性的关键。USHIO提供的闪光灯和卤素灯产品,为半导体热制程提供了从紫外到红外全波段的光学热解决方案。USHIO闪光灯采用脉冲氙灯光源,可对多种敏感基板进行高能量密度辐照,配合172nm波长的高准直光线,可用于微型精密电路的制造。USHIO卤素灯则广泛应用于半导体晶圆加热、快速热退火及键合工艺中,通过将电能高效转化为红外辐射热能,实现对半导体材料精准、均匀的加热。在...
USHIO准分子灯在半导体光刻与表面处理中的应用准分子灯是USHIO在特种光源领域的一项核心技术产品。其准分子灯管采用准分子气体配比技术,可发射172nm、222nm、308nm等单色波长的紫外线。其中,172nm准分子灯在半导体制造中具有不可替代的技术地位。在半导体光刻领域,172nm准分子光源可产生高度准直的深紫外光束,用于制造线宽分辨率低至5×5微米的精密微型电路。在半导体晶圆表面处理方面,172nm准分子灯可实现光清洗和表面改性,包括灰化处理、亲水性处理、粘接性增强及...
USHIO超高压汞灯在半导体光刻工艺中的技术优势在半导体制造中,光刻是决定芯片制程精度的核心工序,而光源系统则是光刻设备的“心脏”。日本USHIO(牛尾)电机株式会社自1964年成立以来,深耕特种光源领域近60年,其超高压汞灯产品已广泛应用于全球半导体光刻产线。USHIO超高压汞灯主要作为半导体、液晶及印刷基板等光刻工序的光源,配备于各类曝光装置中。针对半导体制造中不断提高的成品率要求和日益突出的环保压力,USHIO开发出“Full/Half亮灯方式”技术,可实现超高压UV灯...
半导体制造中的膜厚测量——大塚电子膜厚仪的应用实例半导体制造工艺涉及数十层薄膜的沉积、刻蚀与抛光,每层薄膜的厚度偏差都可能导致芯片性能下降甚至报废。大塚电子的膜厚测量设备在半导体各工序中发挥着关键作用,从裸晶片到配线工序,形成了一套完整的光学检测解决方案。在薄膜沉积工艺中,Smart膜厚仪可用于测量光刻胶、SiO₂、Si₃N₄、High-k介质等薄膜的厚度,确保刻蚀与沉积工艺窗口精准可控。设备采用光谱反射干涉法,能够以非接触方式精确测量纳米级薄膜的厚度,测量范围覆盖1nm至9...
在线嵌入式膜厚检测——大塚电子赋能智能制造全流程监控在先进制造领域中,膜厚测量的场景远不止于实验室。产线上的在线实时监控、真空环境下的嵌入式检测、大面积均匀性扫描等需求,对大塚电子的膜厚检测产品线提出了多元化的技术挑战。大塚电子针对这些不同应用场景,开发了涵盖嵌入式膜厚检测仪、线扫描膜厚仪、真空腔体在线检测设备等多款产品。嵌入式膜厚检测仪采用分光干涉法,搭载了大塚电子高精度FFT膜厚解析系统。设备使用光学光纤构架测量系统,可灵活嵌入至各种制造设备中,实现实时的膜厚测量,并支持...
显微分光膜厚仪OPTM——微小区域的非破坏性膜厚测量在功能性薄膜的制造过程中,被测样品常常具有复杂的三维形状,传统的平板监测样品无法代表实际工件的膜厚分布。大塚电子的显微分光膜厚仪OPTM系列采用了显微反射分光干涉法,可在微小区域内实现高精度膜厚和光学常数(折射率和消光系数)的解析。OPTM可对各种薄膜、晶圆和光学材料上的单层或多层涂层膜进行非破坏、非接触的高速测量,测量时间仅1秒/点,即使是初次使用的操作者也能通过配备的直观软件轻松完成光学常数解析。该设备可实现最小3μm的...
Zeta电位在胶体稳定性评价中的重要意义与测量方法Zeta电位,又称界面电位,是表征分散体系中颗粒表面带电状态的关键物理量。一般而言,Zeta电位的绝对值越大,表示颗粒之间的静电斥力越强,体系能够维持较好的分散状态;反之,当Zeta电位接近零点时,颗粒容易发生聚集和沉降。因此,Zeta电位测量是评价胶体体系稳定性的核心手段之一,广泛应用于墨水、涂料、制药、食品和半导体等领域。测量Zeta电位的常用方法是电泳光散射技术。当对溶液中的颗粒施加电场时,带电颗粒会向相反电极方向迁移,...
大塚电子粒度分析技术——从实验室研发到工业品控的全场景覆盖大塚电子的粒度分析设备线涵盖从实验室g端科研到工业产线日常品控的全场景需求。ELSZ系列以高精度、多功能性满足前沿科研需求,而nanoSAQLA系列则以高通量、自动化设计服务于大批量样品检测场景。无论是有机溶剂、水溶液还是高盐溶液体系,大塚电子的设备均可灵活应对。在化学品和涂料行业中,大塚电子的设备可用于评估墨水、颜料、炭黑等分散体系的粒径分布和Zeta电位,从而控制分散稳定性、耐久性和保质期。在新能源电池材料领域,设...
氧分析仪的智能化趋势与第一热研的未来发展随着工业自动化和智能化水平的不断提升,现代气体分析仪已从单一的浓度测量设备发展为集数据采集、远程通讯、故障诊断等功能于一体的智能终端。第一热研在氧分析仪智能化方面进行了多项技术升级。在通讯集成方面,C-58系列控制单元内置RS-485和MODBUS/RTU通讯协议,可通过标准工业总线将氧浓度、传感器温度、报警状态等数据传输至中控系统。这对于需要远程监控和集中管理的工厂来说极大提升了运维效率。控制单元还提供手动/自动/远程三种量程切换方式...
DAIICHINEKKEN第一热研便携式氧分析仪在化工检修与密闭空间中的应用在化工装置检修、管道吹扫、储罐清洗和密闭空间作业等场景中,便携式氧分析仪是不可h缺的安全检测装备。第一热研TB-SI可携式氧气/微氧分析仪是该领域的代表性产品,内部采用TB-IIF-P传感器与C-28C或C-48控制器组合。TB-SI系列利用氧化锆电极测量氧浓度,主要用于微氧或低氧惰性气体中的氧气浓度测量,在半导体制程和回流焊炉等精密工艺中已普遍采用。即使对于高温烟气等较脏的样气也可直接测量,内置多重...
DAIICHINEKKEN氧分析仪在石油化工行业的应用石油化工行业对氧气浓度的精确控制有着严格要求。过高的氧含量可能引发爆炸事故,过低的氧含量则会影响工艺效率。第一热研氧分析仪在石化领域的应用贯穿炼油、化工原料气制备、储运安全等多个环节。在炼油过程中,C-58-2型顺磁式氧分析仪常用于监测反应容器或管道中的氧气浓度,可及时触发预警,保障人员与设备安全。该仪器采用磁机械哑铃传感器,利用氧气强顺磁性直接检测,不受CO₂、N₂、Ar等背景气体干扰,精度可达±0.1%F...
第一热研DAIICHINEKKEN热磁式氧分析仪的顺磁性原理与技术优势热磁式氧分析仪是第一热研另一项核心技术,它充分利用了氧气独特的顺磁物理特性——氧气在磁场作用下会产生热磁对流,对流强度与氧气浓度成正比,通过精密传感器将此物理变化转化为电信号,最终输出准确的氧浓度数据。与需要参比气体的氧化锆浓差电池法不同,第一热研热磁式氧分析仪不受周围大气环境的影响,响应速度快,特别适合氧气含量不超过40%的气体分析。其技术优势在于:响应时间不超过40秒,可实时监测氧浓度变化;测量精度高,...
第一热研DAIICHINEKKEN氧分析仪概述与技术体系日本第一热研株式会社(DAIICHINEKKEN)成立于1947年,总部位于兵库县芦屋市,是一家拥有数十年气体分析领域研发历史的企业。公司长期致力于氧化锆式、热磁式、超声波式等多种原理氧分析仪的设计与制造,产品广泛应用于石油化工、钢铁冶金、电力、环保、半导体及真空热处理等领域。第一热研的氧分析仪产品线涵盖TB系列、FG系列、OA系列、US系列及Air-C系列等多个产品系列,测量范围从ppm级微量氧到100%高浓度氧全域覆...