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化工膜材料检测的理想选择:Nikon高度计在薄膜厚度测量中的应用

更新时间:2026-05-26      浏览次数:7

化工膜材料检测的理想选择:Nikon高度计在薄膜厚度测量中的应用


化工行业中的高分子薄膜、功能膜、光学膜等产品对厚度一致性要求高,厚度偏差往往会影响产品的光学、力学或阻隔性能。

Nikon高度计测量范围覆盖0-100mm,分辨率可达0.01μm,能够满足从几十微米的超薄膜到数百微米的工程膜的厚度检测需求。

测量时,将数显高度计放置于水平大理石平台上,调节升降连接器使显示表头处于合适高度,固定后按复位键归零,然后将薄膜样品放置于测头和平台之间,轻轻落下测头即可读取精确厚度值。

Nikon高度计测力向下方向为1.225-1.813N(可变更至约0.441N),通过减小测力可避免对柔软或易变形薄膜样品造成测量压痕。

系统最多可选6种测头以适配不同材质和表面特性的薄膜材料,包括标准测头、针式测头、塑料测头、偏心测头、平底测头和滚轴测头。

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